Skip to Menu Skip to Search Contactaţi-ne Romania Site-uri web şi limbi străine Skip to Content

Microscopia electronică cu scanare (SEM) şi microscopia electronică cu transmisie (TEM) sunt tehnicile standard folosite în analiza aparatelor cu semiconductori, esenţiale în procedura de control al calităţii, analiză a defecţiunilor, sau cercetare şi dezvoltare.

Ambele tehnici se pot aplica în secţiune transversală pentru a examina structura verticală a aparatelor. Secţiunea transversală se poate realiza în diverse moduri. Una din cele mai frecvente tehnici de preparare este utilizarea fasciculului ionic focalizat (FIB, adesea în combinaţie cu SEM în acelaşi aparat.

Secţionarea transversală cu ajutorul microscopiei electronice cu scanare (SEM) şi microscopiei electronice cu transmisie (TEM) este un serviciu specializat oferit de SGS. Specialiștii noștri experimentaţi utilizează echipamente de înaltă performanță, pentru a vă oferi imagini extrem de detaliate când aveţi nevoie de o rezoluţie mai mare decât cea oferită de microscopul optic.

Folosim secţionarea transversală cu ajutorul microscopiei electronice cu scanare (SEM) şi microscopiei electronice cu transmisie (TEM) în cadrul mai multor analize, inclusiv:

  • Analiza defecţiunilor fizice
  • Analiza construcţiei
  • Inginerie inversă

Contactaţi SGS pentru a afla mai multe despre cum puteţi folosi secţionarea transversală cu ajutorul SEM şi TEM pentru a asigura controlul calităţii produselor dumneavoastră.