Skip to Menu Skip to Search Contactaţi-ne Romania Site-uri web şi limbi străine Skip to Content

Analiza urmelor ne permite să detectăm impurităţile în concentraţii foarte mici şi poate avea un rol esenţial în procedurile dumneavoastră de control al calităţii. Este importantă în producţia aparatelor cu semiconductori, deoarece chiar şi urmele infinitezimale de contaminare pot reduce sau împiedica funcţionarea produsului.

Analiza urmelor realizată de SGS este un serviciu specializat, de încredere, pe care îl puteţi integra în procesul dumneavoastră de control al calităţii producţiei. Specialiștii noștri experimentaţi utilizează echipamente de înaltă performanță, pentru a identifica urmele de impurităţi care ar putea reduce fiabilitatea produsului sau i-ar afecta funcţionarea. Efectuăm teste de mare sensibilitate, folosind:

  • Spectrometrie de masă cu ioni secundari (SIMS) - pentru identificarea impurităţilor în concentraţii foarte mici 
  • Spectrometrie de masă cu ioni secundari cu timp de zbor (ToF-SIMS) - pentru a detecta impurităţile de suprafaţă
  • Spectroscopie de masă cuplată inductiv (ICPMS) cu descompunere în faza de vapori (VPD) sau extracţie PEM – foarte sensibilă la o gamă largă de elemente

Contactaţi SGS pentru a afla cum vă poate ajuta analiza urmelor să îmbunătăţiţi calitatea şi fiabilitatea produselor dumneavoastră.